全新SNA5000X-E系列矢量網絡分析儀具備9 kHz至26.5 GHz的測量范圍、117 dB動態范圍及智能化操作體驗，支持S參數測量、差分（平衡）測量、接收機測量、時域分析、TDR、帶寬分析、阻抗轉換、端口匹配、去嵌功能、頻譜分析功能等，起價僅為39880元，為研發團隊、教育實驗室及生產線提供高性價比的測試工具，助力客戶高效完成射頻器件驗證與常規高頻測試任務。

1、寬頻段高動態范圍，滿足精密器件測試需求

       SNA5000X-E支持9 kHz~26.5 GHz連續頻率掃描，其動態范圍可達117 dB，結合0.05 dB幅度分辨率與1 Hz頻率分辨率，能精準捕捉微弱信號，滿足高Q值濾波器等精密器件的嚴苛測試需求。

2、多維度功能集成，應對多元行業挑戰

       SNA5000X-E矢量網絡分析儀通過集成多項實用功能，幫助用戶高效應對不同行業的測試挑戰。

(1）便捷地消除夾具效應

       在微波射頻測試中，夾具引入的誤差往往會影響測量精度。SNA5000X-E可通過多項功能系統性解決夾具誤差難題：

       --端口延伸：當被測器件距離較遠或需通過線纜連接時，輸入線纜參數（如長度、損耗），即可將測量參考點延伸至目標位置，自動補償線纜帶來的延遲與損耗誤差。

       --去嵌入功能：通過導入夾具的電氣模型（S參數），從測量結果中反向剝離夾具的插損、反射等影響，直接呈現被測器件的真實性能。

       --阻抗轉換與匹配：支持端口阻抗靈活調整，適配不同接口標準的夾具，進一步減少阻抗失配帶來的干擾。

       這些功能可覆蓋遠程測試、復雜夾具校準等多種場景，確保測量數據真實可靠。

(2）時域分析功能

       隨著數字系統信號處理速度的提升，在時域和頻域內快速、準確測量和分析互連器件性能，已成為保障系統性能的關鍵。

       SNA5000X-E具備時域分析功能（TDA），能對器件的時域特性進行分析。時域反射計（TDR）功能可進行故障點定位，還可以方便地消除部分特定類型的失配對頻域測量的影響，得到排除故障后的預期頻域特性，便于分析故障對器件特性的影響。

TDA功能

TDR功能

       SNA5000X-E還搭載了眼圖功能，為需要對高速信號進行時域分析、高速信號完整性分析的客戶節省了大量成本和時間。

眼圖功能

3、智能化操作，讓效率與精度并存

       SNA5000X-E系列具備12.1英寸觸摸屏，支持多窗口顯示，工程師可同時觀察多個S參數，數據對比一目了然。同時，SNA5000X-E也支持包括群時延、史密斯圖等多種數據顯示格式，支持高頻測量與濾波器特性一鍵分析，快速獲取插入損耗、帶寬等關鍵指標，還支持公式輸入功能，讓每一次測試都更便捷。

       此外，其遠程控制接口（SCPI指令、WebServer）深度適配自動化產線需求。用戶在遠程實現參數配置、數據采集與報告生成的全程自動化，顯著提升產能一致性。

4、回歸基礎測試本身，擁抱更高性價比

       SNA5000X-E具備優異的測試測量性能，并具有智能化操作，是一款高效、可靠的矢量網絡分析儀，可為工程師、研發團隊及生產線提供從研發驗證到批量質檢的一站式解決方案。